激光粒度分析仪性能 Topsizer Plus激光粒度分析仪

Topsizer Plus激光粒度分析仪光路系统：
双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，较大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；探测器自动对中。
Topsizer Plus激光粒度分析仪工作原理
一束平行光在传播过程中遇到障碍物颗粒，光波会发生散射（衍射）偏转，偏转的角度跟颗粒的大小相关，散射（衍射）现象可以通过“Mie散射理论 ”来描述。颗粒粒径越大，光波偏转的角度越小；颗粒粒径越小，光波偏转角度越大。激光粒度分析仪就是利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。

欧美克结合了源自国内外的先进技术，通过对光学、算法、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使欧美克Topsizer Plus激光粒度分析仪具备重复性良好、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。

Topsizer Plus激光粒度分析仪检测器：
探测通道数103个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，大探测角140度，小探测角0.016度，无盲区。

Topsizer Plus激光粒度分析仪软件功能：
丰富的自定义报表功能，方便用户灵活的获取数据和定义报表样式；
软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；
具备SOP标准操作流程功能；
多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；
有导航功能的清晰、明了的流程界面；
具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；
每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；
多种方式的测量数据导出，方便数据交流；
完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；
体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。
提供符合GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。
Topsizer Plus激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。
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